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【ISSCC】Cell采用SOI和应变硅,栅长46nm
海外媒体 | 日经BP | 出处:数码*手机| 2005年02月11日 09:46 | 阅读
         【ISSCC】Cell采用SOI和应变硅,栅长46nm
 
 
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  【日经BP社报道】索尼集团、美国IBM和东芝联合开发的微处理器“Cell”的有关工艺技术详情已在日前举行的“2005年国际固体电路会议(ISSCC 2005)”上公布。该处理器采用的栅长46nm的晶体管应用了SOI(silicon on insulator,绝缘体上外延硅)技术和应变硅技术。

  SOI技术为部分空乏型(Partially Depleted),采用粘贴或SIMOX(注氧分离)晶圆。应变硅技术则应用名为“Dual Stress Liner(DSL)”的工艺所产生的应变作用。有关DSL的详情已在2004年12月召开的“2004年国际电子元件会议(IEDM 2004)”上发表过。

  栅长为46nm,栅绝缘膜使用SiON,以SiO2换算的膜厚为1.05nm。逻辑电路使用2个不同的阀值电压。布线为8层铜布线,其中的低介电率(low-k)膜采用了CVD法形成的SiOC。

  生产基地目前包括IBM位于美国东费希基尔的300mm生产线和索尼集团位于日本长崎的“Fab2”。而且还在探讨在日本大分TS半导体(OTSS)进行生产的可行性,但目前尚未确定。(记者:木村 雅秀)

IBM的James A. Kahle手持300mm晶圆的IBM


CELL工艺详情已经公布